Маркевич, М. И.; Чапланов, А. М.; Малышко, А. Н.; Солодуха, В. А.; Соловьев, Я. А.; Сарычев, О. Э.; Щербакова, Е. Н.; Markevich, M. I.; Chaplanov, A. M.; Malyshko, A. N.; Solodukha, V. A.; Solovyev, Ya. A.; Sarichev, O. E.; Shcherbakova, E. N.
(РИО БарГУ, 2016)
Диоды Шоттки находят широкое применение в системах электроники. В настоящей работе определена высота барьера
диодов Шоттки, сформированных на основе тонкоплёночной системы NiV-Pt при различных режимах отжига. Методами ...